走査型電子顕微鏡(SEM) <故障中>

機種:Quanta250 (FEI社製)
(http://www.fei.com/products/scanning-electron-microscopes/quanta.aspx)
走査電子顕微鏡は、電子線を利用して試料の表面構造を観察するための顕微鏡です。植物組織の微細構造観察に適した顕微鏡ですので、植物科学の分野でも使用 頻度は高く、論文でも撮影像をよく見かけると思います。本機種は、6~1,000,000倍の観察が可能で、撮影画像はデジタル画像で取得します。
最大で幅が100mmで高さが50mmまでの大きさの試料を観察できます。

走査電子顕微鏡の通常の観察法である試料を高真空中において観察する高真空モードに加えて、本機種では低真空モードならびに超低真空(ESEM)モード (最大2600Pa)での観察も可能です。高真空モードでの観察では、試料の固定・脱水・乾燥そして導電性物質の蒸着が必要となりますが、低真空モードな らびに超低真空モードでは、サンプルにもよりますが、上記の作業なしで試料をそのまま観察することができます。

この走査電子顕微鏡に装備する形でBruker社製のエネルギー分散型X線分析装置(EDX)も合わせて導入しました。EDX検出装置は、試料中における元素分布を調べるための検出器です。試料に電子線を当てた際に、試料から飛び出してくる各元素特有の特性X線を検出して観察試料の元素分布を知ることができます。今回導入した装置では、ホウ素(元素番号5)からアメリシウム(元素番号95)までのの元素を検出できる仕様になっています。